磁片外观缺陷检测磁片外观缺陷检测铁氧体磁片是通过陶瓷工艺法制造而成，质地也比较硬，也属脆性材料。在高频时具有较高的磁导率。在生产过程中容易造成磁片，崩残，裂纹等不同的外观缺陷检测。详细信息 一：检测内容及要求检测工件面积  直径5.35mm*高3.9mm的样件的外观、尺寸检测检测内容：     1:底部正光检测外观（崩残，裂纹，发白）     2:顶部正光检测外观（崩残，裂纹，发白） 注明:以上检测项目,均需要在影像下清晰可见才能检测检测效率：每分钟检测数量200-300件(根据样件送料速度)。分工段进行:按照检测内容细分检测步骤. 二： 设备组成及主要机构整体构成 1:磁片外观缺陷检测软件 2:工业电脑 3:显示器：21寸 4:工业相机: 500万黑白 *2 5:工业镜头: 2套FA工业镜头 三、系统安装要求        设备放置的检测空间: 在流水线边单独磁片外观缺陷检测系统，需要保证有足够的空间以安装设备。环境温度： 0-50摄氏度；空气湿度： 90% RH以下；电子干扰： 为设备提供电子干扰较小的地方。电源： 交流220V，50Hz， 耗电＜1KVA磁片外观缺陷检测